新款內存顆粒測試夾具（DDR2/3）

　　◆產品通用性高，換顆粒限位框，即可測試尺寸不同的顆粒（寬度≤13MM 長度≤14MM）；
　　◆產品設計，相比以前更薄，預留插槽卡位，不需轉接槽可直接插到測試板上進行測試，把頻率衰減降到，減少誤測；
　　◆有球無球均可測試，顆粒壓板通過使用高自適應彈簧每個 IC 平衡下壓；
　　◆采用手動翻蓋滾軸式結構，操作省力方便，相比同類產品減少磨損，更高的使用壽命；
　　◆采用臺灣廠家生產的內存顆粒測試 PCB，金手指、IC 焊盤鍍金層是普通 PCB 的 5倍，測試治具有更好的導通和性，相比同類產品具有更好的頻性能及使用壽命；
　　◆采用帶定位孔內存顆粒測試 PCB，探針板與 PCB 孔定位，探針與 PCB 定位，如有損壞用戶可自行更換維修，簡單方便，減少返廠維修，為客戶爭取寶貴時間；
　　
　　◆采用短雙頭探針設計，相比同類測試產品使 IC 與 PCB 之間數輸距離更短，從而使測試更穩定，頻率更高，DDR3系列頻率可達 2000MHz；
　　◆探針板采用定位銷加螺絲結構，在使用過程中如有探針損壞，客戶可自行更換維修，方便維護，為生產爭取寶貴時間；
　　◆高合金 IC 定位框， IC 定位，取放 IC 方便，從而測試效率；
　　◆測試壽命長，測試 10萬次以上；（視使用環境及相關操作而定）
　　◆內存顆粒測試治具測試規格：DDR2X8 DDR3X8性可測試 8顆內存顆粒；
　　◆可以定制單顆內存 IC 與服務器主控 IC 的測試治具
　　◆可以提供相關的技術支持。
　　產品服務：
　　※該產品用戶可自行維修，本公司按提供相關配件；
　　※保修期內，維修（人為損壞、燒壞除外），如果需換件，只收材料成本費。